用心制造 品質(zhì)可靠 您想要的都在這里
型號：Skyscan1273
型號：Skyscan1272
型號：PDF-4 Axiom 2025
型號：PDF-5+ 2025數(shù)據(jù)庫
型號：PHI Genesis 900
型號：PHI 710
型號：PHI nano TOF3+
型號：PHI Genesis 500
以用戶為中心 以人才為根本 努力實(shí)現(xiàn)你我共贏
束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司自成立以來，憑借與德國布魯克（BRUKER）、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作，迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。我們擁有一支積極樂觀，正直誠信的年輕團(tuán)隊(duì)，我們熱忱的信仰科學(xué)，相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來高品質(zhì)的生活，為社會的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設(shè)備，專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，在中國大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶，如高校、科研院所、航空航天，政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。...
進(jìn)一步提高公司的技術(shù)、質(zhì)量和服務(wù)
對于復(fù)雜地質(zhì)樣品，電子多晶X射線衍射儀（XRD）是一種非常有效的分離和鑒定工具。以下是使用XRD對復(fù)雜地質(zhì)樣品進(jìn)行有效分離和鑒定的一般步驟：一、樣品準(zhǔn)備1、粉碎與研磨首先將復(fù)雜地質(zhì)樣品粉碎成細(xì)顆粒，通常需要使用研缽和研杵，或者球磨機(jī)等設(shè)備。粉碎后的顆粒尺寸應(yīng)符合XRD分析的要求，一般在微米級別，這樣能保證樣品具有足夠的表面積，使X射線能夠充分照射到晶體的各個面，獲得準(zhǔn)確的衍射信息。2、篩分與提純（可選）根據(jù)樣品的性質(zhì)和研究目的，可能需要進(jìn)行篩分以分離出特定粒徑范圍的顆粒。如果...
BiasMDP技術(shù)搭配MDPmap設(shè)備，開啟表面鈍化檢測新方式在能源產(chǎn)業(yè)蓬勃發(fā)展的當(dāng)下，追求更高效率的太陽能電池成為行業(yè)核心目標(biāo)。而這其中，表面鈍化技術(shù)的優(yōu)劣起著決定性作用。要深入理解和優(yōu)化表面鈍化，精準(zhǔn)測量固定電荷和界面缺陷密度這兩個關(guān)鍵參數(shù)至關(guān)重要。為大家介紹一項(xiàng)行業(yè)變革的創(chuàng)新技術(shù)——基于微波探測光電導(dǎo)衰減法（MDP）的BiasMDP技術(shù)，這一技術(shù)在實(shí)驗(yàn)測量環(huán)節(jié)，F(xiàn)reibergInstruments公司的MDPmap型號設(shè)備發(fā)揮了重要作用。在BiasMDP技術(shù)出現(xiàn)之前，...
MDP技術(shù)-硅錠質(zhì)量評估的“透視眼”在光伏生產(chǎn)鏈中，硅錠材料質(zhì)量評估對晶體生長者優(yōu)化結(jié)晶過程、電池、芯片制造商篩選材料以降本增效極為重要。傳統(tǒng)依賴最終效率的反饋方式存在諸多不足，MDP技術(shù)則為早期質(zhì)量評估提供了新途徑。FreibergInstruments相關(guān)技術(shù)或設(shè)備助力實(shí)現(xiàn)用MDP技術(shù)在硅磚四個側(cè)面以1mm分辨率測量空間壽命和電阻率圖像。這種測量具有非接觸、可在線操作且無需校準(zhǔn)的優(yōu)勢。MDP技術(shù)能夠?qū)уV的空間分辨載流子壽命和電阻率進(jìn)行測量，其測量過程為非接觸式，可在生產(chǎn)...
由來自國家食品藥品監(jiān)督管理局相關(guān)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、中國藥科大學(xué)、中國科學(xué)院上海藥物研究所等機(jī)構(gòu)的眾多科研人員組成的團(tuán)隊(duì)，結(jié)合體外溶出實(shí)驗(yàn)與三維X射線斷層掃描結(jié)構(gòu)表征的研究方法，開展了甲磺酸多沙唑嗪緩釋片相關(guān)研究。文章中，研究人員運(yùn)用Bruker納米級三維X射線顯微鏡（NanoCT）SkyScan2214剖析了藥物結(jié)構(gòu)與釋放動力學(xué)關(guān)系，為口服控釋仿制藥研發(fā)和質(zhì)量控制提供了重要依據(jù)。該文章于2024年9月21日成功發(fā)表于AsianJournalofPharmaceuticalScien...
lexsyg釋光探測器||在地質(zhì)測年領(lǐng)域應(yīng)用分享突破測年極限！紫光激發(fā)發(fā)光技術(shù)新進(jìn)展，lexsyg系統(tǒng)助力古老沉積物測年研究這篇由牛津大學(xué)與伍倫貢大學(xué)聯(lián)合團(tuán)隊(duì)發(fā)表的研究，為石英測年技術(shù)帶來了重要突破。團(tuán)隊(duì)使用德國FreibergInstruments的lexsygresearchsystem高精度發(fā)光測量系統(tǒng)，對紫色受激發(fā)光（VSL）測年法展開系統(tǒng)性驗(yàn)證，揭示了該技術(shù)在突破傳統(tǒng)測年上限中的潛力與挑戰(zhàn)。創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)研究選取歐洲4處考古遺址樣本（年代跨度40-900ka），通過對...
在半導(dǎo)體材料的研究與應(yīng)用中，缺陷表征至關(guān)重要。特別是在中子嬗變摻雜（NTD）硅的處理過程中，了解其輻射誘導(dǎo)缺陷對于優(yōu)化退火條件、提升材料性能意義非凡。FreibergInstruments公司的微波探測光致電流瞬態(tài)光譜法（MDPICTS）技術(shù)（如圖1），為這一領(lǐng)域帶來了新的突破，展現(xiàn)出諸多傳統(tǒng)技術(shù)難以企及的優(yōu)點(diǎn)。NTD硅，因能實(shí)現(xiàn)極低的電阻率變化，在大面積輻射探測器制造中占據(jù)重要地位。然而，摻雜后的硅晶體因輻射產(chǎn)生大量缺陷，實(shí)際電阻率遠(yuǎn)超預(yù)期，退火成為必要環(huán)節(jié)。在此過程中，準(zhǔn)...
對分布函數(shù)（PairDistributionFunction,PDF）分析是一種描述材料中原子之間距離分布的方法，它可以給出原子間距離分布或者相距r的原子對的“概率”。對于長程有序的結(jié)晶材料，根據(jù)布拉格衍射幾何，可以很容易得到材料對應(yīng)的晶體結(jié)構(gòu)信息，而對于短程有序或者無序的材料，比如非晶、液體等，布拉格衍射給出的信息非常有限（往往是很寬的漫散峰，甚至沒有峰），這時借助PDF分析可以得到更多的細(xì)節(jié)信息。傳統(tǒng)上，PDF測試只能在大型落地式衍射儀上進(jìn)行，臺式衍射儀通常用于簡單的測試...
電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)涉及環(huán)境條件、電源管理、定期檢查與維護(hù)、樣品處理與存放以及軟件維護(hù)等多個方面。只有做好這些養(yǎng)護(hù)工作，才能確保儀器的正常運(yùn)行和延長使用壽命。以下是電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)：1.環(huán)境條件-溫度與濕度：儀器應(yīng)放置在溫度、濕度相對穩(wěn)定的環(huán)境中，一般溫度保持在15℃-30℃，相對濕度在20%-80%為宜。避免將儀器放置在潮濕、高溫或陽光直射的地方，以免影響儀器的性能和壽命。例如，在潮濕的環(huán)境中，儀器內(nèi)部的電子元件可能會受潮生銹，導(dǎo)致電路故障；而高溫環(huán)境可...
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